三维干涉测量传感器
wi - 5000系列
三维干涉测量传感器wi - 5000系列
WI-5000系列3D干扰测量传感器可以在0.13秒内捕捉到高达10 × 10 mm(0.39”× 0.39”)的目标区域的3D图像。该传感器同时记录整个表面的80000个高度数据点，可以进行高度、共面性、甚至表面粗糙度(Sa和Sz)的高精度测量。该传感器利用白光干涉测量技术捕捉图像，可以采用同轴表面测量，消除了在沟槽和其他高度变化剧烈的形状中妨碍精确测量的死区。该测量原理可以对几乎任何表面类型进行精确、可重复的3D测量，包括透明或镜像目标。虽然它的速度使其成为理想的内联测量，可调支架也可用，允许用户利用相同的快速，自动测量的内联和离线检查。
非接触式粗糙度测量
引入WI-5000系列三维干涉测量传感器，用于即时测量表面高度。在线测量线和表面粗糙度。
- 表面粗糙度(Sa /深圳)
- 线粗糙度(Ra / Rz)
特性
面积测量，不是点或线测量
瞬间测量80000点超过最大测量面积10 × 10毫米0.39“×0.39”．WI-5000系列利用白光干涉测量原理，不受材料类型、颜色或盲点的影响，允许高精度、微米级测量。
100%在线测量在高速
为了实现多点测量，传感器必须对目标进行快速、准确的扫描。这样做需要移动工作台，这使得检查非常耗时。使用WI-5000系列，可以在一个表面上进行测量，大大减少了测量时间，并实现了100%的检测。
简化离线检查，显著减少劳动时间
一个专用的支架，以确保传感器头可用于离线检查。各种其他功能是专门为显著减少劳动时间而设计的。从简单的测量到数据存储，WI-5000系列提高了各种设置下的工作效率。